質(zhì)檢總局發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來(lái)進(jìn)行貴金屬含量的無(wú)損檢測(cè)方法。
目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀（XRF）來(lái)測(cè)試貴金屬含量。

XRF對(duì)貴金屬檢測(cè)的*優(yōu)勢(shì)

標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品符合相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，并通過(guò)等相關(guān)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)檢驗(yàn)，并可以提供校準(zhǔn)證書(shū)；
快速：對(duì)樣品無(wú)需前處理，一般只需要20～200秒即可判定金、銀、鉑、鈀等含量，方便對(duì)飾品做大量抽樣的檢測(cè)；
：ppm級(jí)度，可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)；
無(wú)損：測(cè)試前后，樣品無(wú)任何形式的變化；
直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示貴金屬或有害元素含量；
簡(jiǎn)易：操作簡(jiǎn)易，無(wú)需專(zhuān)業(yè)測(cè)試人員，無(wú)需嚴(yán)格的測(cè)試條件；
安全：三重保護(hù)裝置，確保安全無(wú)誤；
經(jīng)濟(jì)：測(cè)試過(guò)程基本不需要任何耗材，降低測(cè)試與維護(hù)費(fèi)用；
可靠：為化學(xué)分析提供測(cè)量依據(jù)，減少成本，提率。